显微技术助力3C行业质量控制
 
显微技术助力3C行业质量控制
 
显微技术助力3C行业质量控制

在刚刚结束的天猫618大战中,3C家电制造商们收割了新一轮增长期,借助创新的“带货”方式,可谓销量喜人。

但你是否知道,这些品类繁多的3C家电产品光鲜的背后,是材料、制造及检测技术的不断推动?近年来,随着3C行业的蓬勃发展、快速推陈出新,催生了配套的电子半导体、显示屏幕、手机镜头、锂电池、以及一些金属部件等向更多样化、更高质量要求的趋势迈进。

电子半导体行业为例,企业通常需要为了工艺开发、良率提高进行结构和失效分析。在过去,不少企业面对表面缺陷分析、截观察测量三维形貌分析、内部缺陷无损分析时,一筹莫展。现在,有了蔡司新型成像解决方案,如Xradia 600 Versa系列等就可以助您轻松走进3C“微观世界”。

7月16日,下午2点,蔡司工业显微镜高级产品工程师张文乐将就包括锂电子、电子半导体、显示屏幕、手机镜头等3C主要部件的质量控制挑战给出精彩报告——《显微技术助力3C行业质量控制》, 期待与你们在课上交流。

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显微技术助力3C行业质量控制
会议大纲
· 蔡司光学、电子和X射线显微镜基本原理介绍
· 蔡司如何实现高分辨高精度表面形貌和内部缺陷分析
· 如何利用显微技术分析产品失效根本原因,提高产品质量
· 3C行业不同领域具体应用案列讲解,
  涵盖电子电路、显示屏幕、手机镜头和锂电池等方面
显微技术助力3C行业质量控制
会议时间和地点
· 2020年7月16日14:00-15:00
· 蔡司专题网络研讨会
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演讲嘉宾
显微技术助力3C行业质量控制

张文乐
高级产品工程师

2013年毕业于中山大学,获得光学工程硕士学位; 毕业后加入蔡司,负责显微镜产品的售前售后支持,熟悉光学显微镜,扫描电镜,聚焦离子束等相关技术领域,长期服务于3C电子行业客户,为国内众多电子行业用户提供应用技术解决方案。

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